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日本oklabCPM/PDS綜合測量裝置干擾測量OKL-CPM/PDS-500型恒定光電流法 (CPM) 和光熱偏轉(zhuǎn)光譜法 (PDS) 可用于子帶隙光吸收系數(shù)測量。由于可以計算缺陷密度，因此可以應(yīng)用于太陽能電池薄膜的性能改進和開發(fā)
產(chǎn)品型號：OKL-CPM/PDS-500型廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時間：2023-04-06訪 問 量：1272
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日本oklabCPM/PDS綜合測量裝置干擾測量OKL-CPM/PDS-500型
日本oklabCPM/PDS綜合測量裝置干擾測量OKL-CPM/PDS-500型
恒定光電流法 (CPM) 和光熱偏轉(zhuǎn)光譜法 (PDS) 可用于子帶隙光吸收系數(shù)測量。
由于可以計算缺陷密度，因此可以應(yīng)用于太陽能電池薄膜的性能改進和開發(fā)
使用我們的 CPM 測量方法，可以抑制干擾并計算準確的缺陷密度。
PDS 可以測量高達 0.4[eV] 的長波長
集成 CPM 和 PDS 的緊湊型經(jīng)濟型
測量是全自動的，沒有麻煩
我們的 CPM/PDS 組合測量設(shè)備型號 OKL-CPM/PDS-500 結(jié)構(gòu)緊湊，因此可以用一臺設(shè)備測量 CPM 和 PDS。我們CPM測量的特點是采用透射光測量法，采用了排除膠片干擾影響的方法。
因此，可以計算出準確的缺陷密度。此外，PDS除了可見光之外，還有紅外光譜光柵，因此可以在長波長范圍內(nèi)進行測量。安裝樣品池的工作臺配備了振動隔離功能，因為在測量過程中不需要振動。所有測量都是計算機控制的自動測量。
使用我們的 CPM 測量方法，可以抑制干擾并計算準確的缺陷密度。
PDS 可以測量高達 0.4[eV] 的長波長
集成 CPM 和 PDS 的緊湊型經(jīng)濟型
測量是全自動的，沒有麻煩
我們的 CPM/PDS 組合測量設(shè)備型號 OKL-CPM/PDS-500 結(jié)構(gòu)緊湊，因此可以用一臺設(shè)備測量 CPM 和 PDS。我們CPM測量的特點是采用透射光測量法，采用了排除膠片干擾影響的方法。
因此，可以計算出準確的缺陷密度。此外，PDS除了可見光之外，還有紅外光譜光柵，因此可以在長波長范圍內(nèi)進行測量。安裝樣品池的工作臺配備了振動隔離功能，因為在測量過程中不需要振動。所有測量都是計算機控制的自動測量。
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