Gaertner Scientific橢偏儀型號及介紹

更新時間：2025-07-25

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橢偏儀是一種用于測量薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)的儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體制造、光學(xué)涂層等領(lǐng)域。Gaertner Scientific Corporation 是一家知的名的橢偏儀制造商，提供多種型號的橢偏儀以滿足不同需求。以下是 Gaertner Scientific 橢偏儀的常見型號及其介紹：

常見型號及介紹

1. Gaertner Scientific LEO-950 橢偏儀

用途：適用于實驗室和生產(chǎn)環(huán)境中的薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)測量。
特點：

高精度：采用先進的光學(xué)設(shè)計和數(shù)據(jù)處理算法，提供高精度的測量結(jié)果。
寬波長范圍：支持多種波長光源，可測量不同材料的光學(xué)特性。
自動化操作：具備自動化測量功能，可減少人為誤差，提高測量效率。
多樣化分析：支持多種分析模式，包括單波長、多波長和光譜分析。
易于使用：用戶友好的界面設(shè)計，方便操作和數(shù)據(jù)處理。

2. Gaertner Scientific LEO-930 橢偏儀

用途：適用于薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)的常規(guī)測量，適合實驗室和工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境。
特點：

穩(wěn)定性：采用穩(wěn)定的光學(xué)平臺和高精度的檢測系統(tǒng)，確保測量結(jié)果的可靠性。
多波長選擇：支持多種波長光源，滿足不同材料的測量需求。
快速測量：優(yōu)化的測量流程，縮短測量時間，提高工作效率。
數(shù)據(jù)處理：內(nèi)置數(shù)據(jù)分析軟件，提供實時數(shù)據(jù)處理和結(jié)果分析。
便攜性：緊湊的設(shè)計，便于在不同場所使用。

3. Gaertner Scientific LEO-920 橢偏儀

用途：適用于基礎(chǔ)研究和教學(xué)環(huán)境，提供薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)的基本測量功能。
特點：

經(jīng)濟實惠：成本效益高，適合預(yù)算有限的實驗室和教學(xué)機構(gòu)。
基本功能：提供基本的橢偏測量功能，滿足常規(guī)實驗需求。
易于操作：簡潔的操作界面，便于用戶快速上手。
數(shù)據(jù)輸出：支持?jǐn)?shù)據(jù)導(dǎo)出功能，方便進一步分析和報告生成。
維護簡便：結(jié)構(gòu)簡單，易于維護和保養(yǎng)。

Gaertner Scientific 品牌介紹

Gaertner Scientific Corporation 是一家專注于精密光學(xué)儀器和測量設(shè)備的制造商，成立于1946年，總部位于美國伊利諾伊州芝加哥。Gaertner Scientific 以其高質(zhì)量的橢偏儀和光譜儀而聞名，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于科研、工業(yè)和教育領(lǐng)域。

Gaertner Scientific 與 Apell 品牌

Gaertner Scientific 與 Apell 品牌有一定的關(guān)聯(lián)。Apell 是一家專注于橢偏儀和其他光學(xué)測量設(shè)備的制造商，其產(chǎn)品以高精度和可靠性著稱。Gaertner Scientific 與 Apell 在技術(shù)和市場推廣方面有合作，共同為客戶提供優(yōu)質(zhì)的橢偏儀解決方案。

應(yīng)用領(lǐng)域

Gaertner Scientific 的橢偏儀廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域：

材料科學(xué)：研究材料的光學(xué)特性和表面性質(zhì)。
半導(dǎo)體制造：測量半導(dǎo)體薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)。
光學(xué)涂層：評估光學(xué)涂層的質(zhì)量和性能。
薄膜技術(shù)：開發(fā)和優(yōu)化薄膜材料。
教育和研究：支持高校和科研機構(gòu)的實驗和教學(xué)。

選型建議

確定需求：明確測量需求，包括測量范圍、精度要求、波長范圍等。
預(yù)算考慮：根據(jù)預(yù)算選擇合適的型號，經(jīng)濟型、標(biāo)準(zhǔn)型和高的端型各有側(cè)重。
技術(shù)支持：選擇提供良好技術(shù)支持和售后服務(wù)的供應(yīng)商。
品牌信譽：優(yōu)先選擇知的名的品的牌，確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

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