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更新時(shí)間：2023-08-18 
瀏覽次數(shù)：611只需將探頭靠近測量點(diǎn)即可進(jìn)行高速微位移測量。
不需要補(bǔ)償麻煩的工作反射。
新插件模塊ATP203！響應(yīng)能力和分辨率進(jìn)一步提高。
3MHz高速響應(yīng)！非常適合分析壓電元件和高速振動現(xiàn)象！
納米級分辨率！它測量真實(shí)的位移，而不是速度，因此您不會錯過低頻下的微小位移！
配備可變低通濾波器，可實(shí)現(xiàn)最佳響應(yīng)速度和分辨率。
輕松設(shè)定！只需將其靠近工件并僅執(zhí)行一次反射率校正即可！
ATW200是一款差動光纖位移計(jì)。我們專有的差分光纖排列 實(shí)現(xiàn)了納米級的高分辨率和 3 MHz 的高速響應(yīng)，同時(shí)抑制了待測工件反射率的影響。
如圖1所示，光纖束在測量端布置的發(fā)射光纖、接收光纖A和接收光纖B的相對側(cè)分支成三個(gè)分支。當(dāng)來自光源的光傾斜入射到發(fā)射光纖時(shí)，光從測量端面射出，如圖2所示，在測量表面上反射，進(jìn)入接收光纖。此時(shí)，反射光變成環(huán)形，其直徑根據(jù)測量間隙而變化。和信號PA+PB是總反射光量，差信號PB-PA根據(jù)間隙變化，如圖 4 所示。差信號除以和信號得到的信號與被測物體的反射率無關(guān)（圖5）。
非常適合壓電元件的振動測量、高速振動現(xiàn)象分析、鏡面旋轉(zhuǎn)體的偏轉(zhuǎn)測量、掃描探針顯微鏡的探針位移測量等。
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